O型圈的失效會引發許多事端,給用戶帶來很大的損失。要使O型圈獲得最好的運用壽命和可靠性,規劃人員有必要正確挑選O型圈的資料,并且要深入了解影響密封功能的各種因素。
稱號及現象 | 描述 | 原因 | 解決方法 |
裝置損傷 | 密封件部分或悉數出現規整 創傷 | 邊角尖利,無裝配倒角;密封件尺度不對; 密封件硬度或彈性過低 | 去毛刺,加工倒角;挑選尺度合適的密封件; 挑選彈性更好,硬度更高的密封件 |
密封件彎曲 | 密封件明顯出現彎曲現象 | 裝置形成;運動速度太低;資料太硬或 彈性太低;O型圈外表處理不均勻;溝槽 尺度不均勻;溝槽外表粗糙、潤滑缺乏 | 正確裝置;挑選高彈性資料;挑選自潤滑的 資料;恰當的溝槽規劃及達到要求的加工精度; 盡量運用支撐環 |
過度壓縮 | 密封件外表呈平面變形, 并或許伴隨裂紋 | 規劃不合理;未考慮資料因為熱量或化學 介質引起的變形;因為壓力過大引起 | 溝槽規劃考慮資料因為熱量或化學介質引起的 變形的因素 |
擠出 | 密封件有粗糙破爛的邊緣, 通常在壓力低的一側 | 空隙過大;密封件硬度或彈性過低; 溝槽空間太小;空隙尺度不規則;溝槽 邊角過于尖利;密封件尺度不合適 | 降低空隙尺度;挑選彈性更好,硬度更高的 密封件;合理的溝槽規劃;挑選尺度合適的 密封件 |
永久壓縮 變形 | 密封件接觸外表出現平面永久 變形 | 壓力過大;溫度過高;資料硫化不完全; 資料永久變形率過高;資料在化學介質中 過度膨脹 | 挑選低變形率的資料;合理的溝槽規劃;承認 資料與介質相容 |
化學腐蝕 | 化學腐蝕可引起發泡、決裂、 小洞、褪色等缺點,可通過 丈量其物理功能得知 | 資料與介質不符或溫度過高 | 挑選更加耐化學介質的資料 |
熱腐蝕 | 密封件的高溫接觸外表出現 徑向裂紋,有的資料或許會 變軟,乃至更有光澤 | 資料不能接受高溫,或溫度超出估計 溫度,或溫度改變過快過頻繁 | 挑選具有抗高溫功能的資料,如或許盡量 降低密封面溫度 |
磨損 | 密封件悉數或部分密封區域 發生磨損,可在密封外表找 到資料磨損的顆粒 | 密封外表光潔度不行;溫度過高;密封環境 滲入磨損性強的污物;密封件發生相對運動; 密封件外表處理不徹底 | 運用推薦的溝槽光潔度;運用可自潤滑的資料; 鏟除形成磨損的部件和環境 |
溶瀑 | 密封件外表出現氣泡、凹坑、 疤痕,壓力很大時資料吸收 介質內的氣體,壓力突然 減小時,氣體快速逃出,造 成密封表皮爆破 | 壓力改變太快;密封件硬度或彈性過低; | 挑選高硬度、高彈性的資料;降低減壓的速度 |
密封件褪色,一起有粉末狀 物質殘留在外表,與介質 無接觸一側有腐蝕痕跡 | 化學反應發生電解、濺蝕(離子對結構外表 沖擊引起資料損耗)、火熱,溝槽規劃不合理; 密封資料與介質不相容 | 挑選與介質相容的材 料; 降低暴露區域; 檢查溝槽規劃 | |
密封件通常表現為截面 尺度減小。此缺點較難檢測 | 資料硫化處理不妥;高真空密封要求; 資料硬度過低,或者運用了帶有增塑劑的資料 | 避免運用帶有增塑劑的資料;承認密封件經過 正確的硫化處理以減低走漏 | |
污染 | 密封件截面有異物 | 出產進程環境有污染;資料遇到腐蝕或發生 反應;資料為非半導體職業等級的資料 | 加強密封件出產、運送、運用進程的環境控制 |
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